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Altera启动全球 SoC FPGA开发者论坛

21ic嵌入式讯 Altera公司今天宣布,启动Altera SoC开发者论坛(ASDF,Altera SoC Developers Forum)。这些开幕活动在硅谷、中国深圳和德国法兰克福举行,合作伙伴、开发者和工程师将汇聚一堂,他们共同关注使用基于ARM的SoC FPGA中的精细粒度异构计算技术,满足下一代嵌入式计算应用需求。在ASDF提供的环境中,系[详细]

技术解析:CMOS电路ESD保护结构设计

静电放电是CMOS电路中最为严重的失效机理之一,严重的会造成电路自我烧毁。论述了CMOS集成电路ESD保护的必要性,研究了在CMOS电路中ESD保护结构的设计原理,分析了该结构对版图的相关要求,重点讨论了在I/O电路中ESD保护结构的设计要求。1引言静电放电会给电子器件带来破坏性的后果,它是造成集成电路失效的主要[详细]

USB 接口易损坏

问题:该问题由某客户提出,发生在 STM32F205VCT6 器件上。据其工程师讲述:为了实现产品的设计中使用 STM32 的 USB OTG 接口,作为其产品的一个通用 USB 接口来用。在其产品小批量试产后,发现 STM32 的 USB OTG 接口在其产品的使用过程中易损坏。调研:使用 USB OTG 驱动库的 DEMO 程序对芯片进行测试,发现其[详细]

SPI 接口发片选信号导致死机

问题:该问题由某客户提出。据其工程师描述:其产品设计中,使用了 STM32F103VDT6 器件。该器件的 SPI2 通信接口外接一个 EEPROM,如下图所示。 在其进行软件调试时,发现当程序发起对 EEPROM 的读写 时会导致 STM32 死机。用示波器进一步观测,发现 STM32 只发出了片选信号(/CS),没有 SPI 时 钟送出。于是断[详细]

对 Flash 操作导致 USART 接收丢数据

问题:该问题客户提出,发生在STM32F103VDT6 器件上。据其工程师讲述:在其产品设计中,使用了STM32 片上Flash 模拟了一个EEPROM 的功能,用于存贮数据。在软件调试时,发现开启此功能,会影响到USART 通信,导致偶尔发生个别数据接收不到的现象。调研:检查其软件代码,发现其中对Flash 上数据的更新操作分为如[详细]

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