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技术解析：CMOS电路ESD保护结构设计
静电放电是CMOS电路中最为严重的失效机理之一，严重的会造成电路自我烧毁。论述了CMOS集成电路ESD保护的必要性，研究了在CMOS电路中ESD保护结构的设计原理，分析了该结构对版图的相关要求，重点讨论了在I/O电路中ESD保护结构的设计要求。1引言静电放电会给电子器件带来破坏性的后果，它是造成集成电路失效的主要[详细]
USB 接口易损坏
问题：该问题由某客户提出，发生在 STM32F205VCT6 器件上。据其工程师讲述：为了实现产品的设计中使用 STM32 的 USB OTG 接口，作为其产品的一个通用 USB 接口来用。在其产品小批量试产后，发现 STM32 的 USB OTG 接口在其产品的使用过程中易损坏。调研：使用 USB OTG 驱动库的 DEMO 程序对芯片进行测试，发现其[详细]
SPI 接口发片选信号导致死机
问题：该问题由某客户提出。据其工程师描述：其产品设计中，使用了 STM32F103VDT6 器件。该器件的 SPI2 通信接口外接一个 EEPROM，如下图所示。 在其进行软件调试时，发现当程序发起对 EEPROM 的读写 时会导致 STM32 死机。用示波器进一步观测，发现 STM32 只发出了片选信号（/CS），没有 SPI 时 钟送出。于是断[详细]
对 Flash 操作导致 USART 接收丢数据
问题：该问题客户提出，发生在STM32F103VDT6 器件上。据其工程师讲述：在其产品设计中，使用了STM32 片上Flash 模拟了一个EEPROM 的功能，用于存贮数据。在软件调试时，发现开启此功能，会影响到USART 通信，导致偶尔发生个别数据接收不到的现象。调研：检查其软件代码，发现其中对Flash 上数据的更新操作分为如[详细]
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